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日本NCC可視化目視清潔檢查燈設(shè)備檢測灰塵 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈，旨在實現(xiàn) 0% 的缺陷率。

日本NCC手持式目視檢查燈檢測異物漂浮狀態(tài) ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈，旨在實現(xiàn) 0% 的缺陷率。

日本進(jìn)口NCC顆粒/灰塵高精度目視清潔檢查燈 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈，旨在實現(xiàn) 0% 的缺陷率。

日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000 這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。

日本katsura自準(zhǔn)直儀角度高精度測量裝置 MS-2000 該設(shè)備非常適合評估和檢查智能手機(jī)和其他設(shè)備中安裝的具有傳感器移位圖像穩(wěn)定功能的相機(jī)模塊執(zhí)行器。 通過使用特殊的專用目標(biāo)，可以高精度地同時測量目標(biāo)物體的六項：傾斜（θX，θY）、位移（Z）、位置（X，Y）和旋轉(zhuǎn)（θ）。

nisshooptical狹縫圖像觀察深度高度測量機(jī) AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進(jìn)行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

nisshooptical鹵素光源目視檢查測量儀日本 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進(jìn)行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

日本nisshooptical半導(dǎo)體激光器測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進(jìn)行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。