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日本ERD分立半導體高速容量測量測試儀進口 CMS-200 無汞！超高速容量測量測試儀??！ MODEL CMS-200系列是一種高速、高精度測量分立半導體（FET、二極管等）電容特性的方法。

日本ERD分立式半導體前端DC/C測量測試儀 ATS-3810PRB 無汞！Prober連接型超高速中信號直流測試儀?。? MODEL ATS-3810PRB是一款專門用于分立半導體前端工藝中探測機DC/C測量的測試儀。

日本ERD高速處理介質(zhì)信號直流測試儀高精度 ATS-3610 無汞！處理器連接4設(shè)備獨立超高速介質(zhì)信號直流測試儀！！ MODEL ATS-3610 可高速、高精度地檢查并確定分立半導體制造過程中的直流特性。

日本進口ERD分立式直流測試儀無汞高性能 ATS-3201 無汞！小信號直流測試儀??！ MODEL ATS-3201是最新款分立式直流測試儀，具有體積小、重量輕、高速、高性能、性價比高等特點。

日本進口Arrows晶圓邊緣視覺檢測設(shè)備高精度 ARROWS/日本 WEIM-6800A 這是盒式到盒式自動晶圓邊緣檢查機。每張檢查時間為 10 秒，節(jié)拍時間為 30 秒，實現(xiàn)了高吞吐量。機器人從25片晶圓存儲盒中一張一張取出晶圓，進行自動對準、檢查，然后將其存儲在晶圓盒中。易于操作。 可以自動檢查劃痕、異物、缺口和裂紋等缺陷。 我們在每張 30 秒內(nèi)（包括運輸時間）進行高速檢查。

Yamada高照度檢查燈鹵素光源設(shè)備山田光學 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

日本進口YAMADA鹵素光源檢查燈高亮度射鏡 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

FUNATECH表面檢查燈FY-18系列白光、綠光 FUNATECH/船越龍 FY-18N/FY-18L FY-18系列（FY-100R的后繼型號） 采用LED光源，非常適合目視檢查產(chǎn)品表面是否有劃痕、污垢、異物等。 更輕松地對半導體零件、顯示器、樹脂產(chǎn)品和精密零件進行目視檢查。 通過與二向色濾光片組合，變得更容易觀察，并且對眼睛溫和，減輕工人的壓力。