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日本NPC手動(dòng)型電阻率測(cè)試裝置用于多種材料 sigma-5+ 它可以精確測(cè)量硅片等的電阻率，還有用于太陽(yáng)能電池的硅的便攜式探頭。 這是一款高精度電阻率測(cè)量?jī)x器，采用20多年電阻率測(cè)量相關(guān)的專(zhuān)業(yè)知識(shí)和技術(shù)設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)。 可以在半導(dǎo)體基板和導(dǎo)電薄膜基板的研發(fā)/檢查過(guò)程或生產(chǎn)線(xiàn)中高精度地確定和評(píng)估薄層電阻值和體積電阻值。

日本NPC手持式非接觸式面電阻測(cè)試儀高精度 sigma-5+ 探頭接觸樣品即自動(dòng)開(kāi)始測(cè)量 可通過(guò)JOG旋鈕快速設(shè)定測(cè)量條件 5種測(cè)量范圍探頭可根據(jù)樣品電阻率進(jìn)行更換 可選配P/N型判定量測(cè)功能 應(yīng)用：硅片樣品， 化合物半導(dǎo)體， 外延層， 擴(kuò)散層， 碳化硅， 薄膜材料， 金屬膜， ITO, IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

日本NPC電阻率測(cè)試儀測(cè)量?jī)x器高精度多功能 sigma-5+ 這是一款手動(dòng)型測(cè)量?jī)x器，采用四探針?lè)?，可輕松準(zhǔn)確地測(cè)量太陽(yáng)能電池用硅片、液晶基板、金屬薄膜等的方塊電阻或體積電阻。它支持從低電阻到高電阻的各種測(cè)量。 1) 用于硅錠制造→晶圓制造工序（成膜等各工序）的產(chǎn)品檢查　 2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜時(shí)的產(chǎn)品檢查 3) 用于各種導(dǎo)電材料制造過(guò)程中的產(chǎn)品檢驗(yàn)

日本Toadkk便攜式離子計(jì)檢測(cè)儀帶背光功能 pH/ORP 纖薄設(shè)計(jì)，易于握在手中 具有背光功能 省電設(shè)計(jì)，也可使用充電電池 防水結(jié)構(gòu)（IP67：1 m，可浸泡 30 分鐘） 數(shù)據(jù)記憶功能（1500個(gè)數(shù)據(jù)）

日本toadkk面板式電導(dǎo)率儀用于半導(dǎo)體測(cè)量 WBM-100 緊湊的 DIN96 尺寸 微電腦計(jì)算溫度補(bǔ)償 具有細(xì)胞常數(shù)調(diào)節(jié)功能 可顯示水溫

日本ceramic forum半導(dǎo)體分析裝置測(cè)量結(jié)晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度測(cè)量結(jié)晶缺陷導(dǎo)致的電子狀態(tài)的良好方法。 即便是內(nèi)在微小的雜質(zhì)或格子缺陷也會(huì)很大程度上影響半導(dǎo)體材料性能，所以此類(lèi)測(cè)量非常重要。

日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀便攜式 Crystalline Tester CS1 ”Crystalline Tester CS1”是非破壞性、非接觸式檢測(cè)可見(jiàn)光（波長(zhǎng)400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測(cè)設(shè)備。通過(guò)本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無(wú)法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。

日本RikenKeiki光波干涉式氣體監(jiān)測(cè)儀高性能 FI-8000 ?一臺(tái)設(shè)備最多可測(cè)量 8 種氣體 ?兩種吸入方式可供選擇： 　內(nèi)置泵自動(dòng)吸入型 / 手持式吸氣器手動(dòng) 　吸入型 ?配備間歇測(cè)量模式（僅限自動(dòng)吸入型） 　記錄濃度值和時(shí)間，可在主機(jī)上查看氣體濃度變化 - 易于閱讀的大液晶屏清晰　顯示 　待測(cè)氣體類(lèi)型、氣體濃度、測(cè)量單位和剩余電池電量