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日本NCC高度直射檢查燈可視化灰塵、異物等 Quantum 用小但高度直射的光“可視化”灰塵、異物和劃痕！ 檢查燈“Quantum”，現(xiàn)場(chǎng)管理人員的必需品

日本NCC清潔潔凈檢查燈光照均勻檢測(cè)異物 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場(chǎng)所的清潔檢查燈，旨在實(shí)現(xiàn) 0% 的缺陷率。

日本morita無(wú)線電切斷手持式屏蔽箱測(cè)試儀 WM1019-04178H 該款屏蔽箱為手入式屏蔽箱，具有80dB的良好屏蔽特性，即使將諸如手機(jī)、智能手機(jī)和平板的無(wú)線通信設(shè)備置于強(qiáng)電場(chǎng)的環(huán)境中，也可使設(shè)備達(dá)到【無(wú)信號(hào)】的狀態(tài)。適合被應(yīng)用在移動(dòng)設(shè)備取證和智能手機(jī)取證等用途上。因內(nèi)部可安裝夾具和天線等部件，所以也可完成OTA測(cè)試試驗(yàn)。

日本morita移動(dòng)設(shè)備測(cè)試屏蔽箱無(wú)線模塊測(cè)量 WM-1019-0453H 手入式屏蔽箱可容納移動(dòng)通信終端和具有通信功能的游戲機(jī)等設(shè)備，并空手即可對(duì)他們進(jìn)行測(cè)試，屏蔽箱內(nèi)部也可以安裝希望的夾具。因?yàn)榘惭b有透明的目視用窗口，可以在查看內(nèi)部機(jī)械的同時(shí)進(jìn)行相關(guān)操作。

日本mitaka非接觸式微透鏡陣列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) MA系列 配備了NH系列的所有基本形狀測(cè)量功能，可以測(cè)量透鏡和模具的橫截面形狀，并使用專用軟件一次性測(cè)量曲率和中心坐標(biāo)。

日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測(cè)量裝置 MLP系列 MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無(wú)法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜測(cè)量。點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探頭和每個(gè)軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測(cè)量人員的問(wèn)題。

日本mitaka非接觸三維測(cè)量裝置高精度耐磨損 NH系列 NH系列實(shí)現(xiàn)了高精度和易用性， 解決了過(guò)去的測(cè)量問(wèn)題。 ?可在不損壞測(cè)量對(duì)象的情況下進(jìn)行測(cè)量 ?擅長(zhǎng)測(cè)量陡峭的斜坡和大的凹凸不平 ?直接測(cè)量鏡面和透鏡等透明物體

日本mitaka非接觸式表面粗糙度快速測(cè)量裝置 PF系列 通過(guò)使用可實(shí)現(xiàn)指數(shù)測(cè)量速度提高 50 倍的掃描 AF 功能和高精度自動(dòng) XY 工作臺(tái)，我們實(shí)現(xiàn)了數(shù)十毫米大范圍內(nèi)的高速測(cè)量，測(cè)量精度達(dá)到亞微米級(jí)。 非常適合測(cè)量無(wú)法使用截面曲線檢測(cè)到的精密加工零件的翹曲、成型產(chǎn)品的缺陷形狀以及摩擦學(xué)中磨損和劃痕的定量評(píng)估。