
PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本進(jìn)口yamada鹵素?zé)艄庠囱b置精密檢測(cè) YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動(dòng)等 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2025-05-06
經(jīng)銷商
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日本YAMADA高輝度檢查燈鹵素光源裝置進(jìn)口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動(dòng)等 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2025-05-06
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山田光學(xué)yamada半導(dǎo)體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2025-05-06
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YAMADA山田光學(xué)鹵素光源裝置檢查燈高亮度 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2025-05-06
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日本YAMADA山田光學(xué)高亮度光源裝置檢查燈 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2025-05-06
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日本SanRex露光裝置光源機(jī)器用電源高性能 SANREX/日本 在高密度、高精細(xì)的印刷電路板等利用照相工藝印刷、曝光布線圖案時(shí),也需要高穩(wěn)定、高輸出的光,因此需要高輸出的光源電源。
2025-05-06
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美國(guó)dolan-jenner高照度鹵素光源照明器進(jìn)口 Dolan-Jenner/美國(guó) Fiber-Lite Mi-152系列 Fiber-lite Mi-152 是一款 150 瓦 21 伏 EKE 燈,可為各種光纖光導(dǎo)組件提供 350,000 英尺燭光的高強(qiáng)度光,是當(dāng)今市場(chǎng)上用途廣泛的系統(tǒng)之一。 可選的紅外線和彩色濾光片可進(jìn)一步定制光譜,為您的特定應(yīng)用打造的照明選擇。
2025-05-06
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美國(guó)dolan-jenner鹵素光源照明器性能高亮度 Dolan-Jenner/美國(guó) Fiber-Lite Mi-150系列 Mi-150 150 瓦 21 伏 EKE 燈可為各種光纖光導(dǎo)組件提供 350,000 英尺燭光的高強(qiáng)度光,使其成為當(dāng)今市場(chǎng)上用途廣泛的系統(tǒng)之一。 可選的紅外線和彩色濾光片可進(jìn)一步定制光譜,為您的特定應(yīng)用打造的照明選擇。
2025-05-06
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