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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2025-05-06
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1576
YAMADA高亮度鹵素光源用于檢測各種缺陷照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2025-05-06
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YAMADA鹵素光源照明設備高強度檢查燈進口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2025-05-06
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日本進口yamada鹵素燈光源裝置精密檢測 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動等 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2025-05-06
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日本YAMADA高輝度檢查燈鹵素光源裝置進口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動等 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
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山田光學yamada半導體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
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YAMADA山田光學鹵素光源裝置檢查燈高亮度 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
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日本YAMADA山田光學高亮度光源裝置檢查燈 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
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