日本teclock晶圓薄膜杠桿式測(cè)厚量規(guī)厚度計(jì)
日本teclock晶圓薄膜杠桿式測(cè)厚量規(guī)厚度計(jì)

• 測(cè)量頭 & 砧座：陶瓷制，防銹、耐磨、不劃傷工件
• 測(cè)量范圍：0 – 20 mm
• 分辨率：0.01 mm
• 可測(cè)工件：厚度 ≤ 20 mm 的薄膜、晶圓、塑料、金屬薄板等
• 特點(diǎn)：小巧輕便，低測(cè)力設(shè)計(jì)，適合現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室快速測(cè)量

• 安裝方便
  可固定于支架或治具，也可單手手持測(cè)量。
• 測(cè)量方法
  將測(cè)頭輕夾在被測(cè)物兩側(cè)，直接讀取厚度值。
  按壓升降桿，測(cè)頭抬起→放入樣品→松開(kāi)即自動(dòng)回零，操作簡(jiǎn)單。
• 高精度刻度
  表盤(pán)式刻度提供 0.01 mm 與 0.001 mm 兩種分辨率。
• 測(cè)量范圍
  最大可測(cè)厚度 50 mm（視具體機(jī)型）。
• 適用樣品
  頭發(fā)絲、金屬薄板、細(xì)管、小成型件等均可快速測(cè)量，適合現(xiàn)場(chǎng)短時(shí)抽檢。

• 安裝方便
  可固定于支架或治具，也可單手手持測(cè)量。
• 測(cè)量方法
  將測(cè)頭輕夾在被測(cè)物兩側(cè)，直接讀取厚度值。
  按壓升降桿，測(cè)頭抬起→放入樣品→松開(kāi)即自動(dòng)回零，操作簡(jiǎn)單。
• 高精度刻度
  表盤(pán)式刻度提供 0.01 mm 與 0.001 mm 兩種分辨率。
• 測(cè)量范圍
  最大可測(cè)厚度 50 mm（視具體機(jī)型）。
• 適用樣品
  頭發(fā)絲、金屬薄板、細(xì)管、小成型件等均可快速測(cè)量，適合現(xiàn)場(chǎng)短時(shí)抽檢。